Iijima Y., Muroga T., Shiohara Y., Yamada Y., Saito T., Hirabayashi I., Araki T., Niwa T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, substrate single crystal, PLD process, buffer layers, IBAD process, TFA-MOD process, critical current density, microstructure, fabrication, critical caracteristics
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2003, v.13, N 2, p.2532-2534
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.